Différences entre les versions de « Bancs de tests spécifiques »
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| − | + | L'équipe a construit une solide expertise dans ses principaux thèmes de recherche ([[Technologies pour la CAO|Technologies pour la CAO]], [[Systèmes et microsystèmes multiphysiques|Systèmes et microsystèmes multiphysiques]]). En effet, concernant les activités de modélisation, nous avons développé des procédures permettant d'effectuer des mesures précises et exhaustives afin d'extraire les paramètres des dispositifs étudiés. Les résultats expérimentaux sont systématiquement confrontés et comparés aux modèles théoriques pour validation. Concernant les circuits intégrés développés pour des applications de capteurs (capteurs magnétiques et imageurs), nous concevons des cartes et procédures de tests qui correspondent la plupart du temps aux standards industriels et/ou médicaux. Notre expertise repose sur : | |
| − | * | + | * L'extraction de paramètres de composants (électriques, température, etc.) |
| − | * | + | * La conception et le caractérisation de capteur magnétiques |
| − | * | + | * La conception d'ASICs bas-bruit, basse consommation à architectures mixtes (systèmes instrumentaux), la conception de cartes de tests ad-hoc et la caractérisation, comprenant les mesures bas-bruit, basses fréquences, les mesures haute précision |
| − | * | + | * La conception et la caractérisation de capteurs de lumière |
| − | * | + | * Les ASICs ultra-rapides (caméras ultra-rapides), les cartes et procédures de tests ad-hoc incluant la caractérisation ultra-haute fréquence, les mesures haute précision |
| − | * | + | * Les systèmes sur puce (SoC) sur cible FPGA pour les bancs de test |
| − | * | + | * L’automatisation des bancs de test (par LabView) |
| − | == | + | == Caractérisation de capteurs magnétiques == |
| − | [[File:Magnetic_TB.JPG|320px|thumb|right|link= | + | [[File:Magnetic_TB.JPG|320px|thumb|right|link=Bancs_de_tests_spécifiques#Caractérisation_de_capteurs_magnétiques|[http://icube-smh.unistra.fr/fr/index.php/Bancs_de_tests_spécifiques#Caractérisation_de_capteurs_magnétiques Banc de test pour capteurs magnétiques]]] |
| − | + | Nos activités de recherche sur les capteurs magnétiques impliquent l'utilisation de sources magnétiques calibrées avec précision et fiables. C'est pourquoi l'un de nos bancs de test a été construit autour d'une bobine de Helmholtz dédiée, spécialement conçue par les ingénieurs du CNRS. Cette source a été calibrée avec une précision au nanotesla au moyen d'une sonde RMN. Elle peut être pilotée soit en courant continu (pour les mesures statiques), soit par une source AC (Agilent 6813B) (pour les mesures dynamiques). Les données de mesure sont acquises au moyen d'un multimètre numérique 8½ digit (Agilent 3458A) et d'une unité d'acquisition / stockage (Agilent 34970A). Le banc de test comprend également un analyseur de signaux dynamiques (Agilent 35670A) (pour l'analyse spectrale des phénomènes de bruit). | |
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| − | File:Helmholtz_coil.JPG|link= | + | File:Helmholtz_coil.JPG|link=Bancs_de_tests_spécifiques#Caractérisation_de_capteurs_magnétiques|[http://icube-smh.unistra.fr/fr/index.php?title=Bancs_de_tests_spécifiques#Caractérisation_de_capteurs_magnétiques Bobine de Helmholtz] |
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| − | == | + | == Caractérisation d'imageurs rapides == |
| − | [[File:Camera_TB.JPG|320px|thumb|right|link= | + | [[File:Camera_TB.JPG|320px|thumb|right|link=Bancs_de_tests_spécifiques#Caractérisation_d'imageurs_rapides|[http://icube-smh.unistra.fr/fr/index.php/Bancs_de_tests_spécifiques#Caractérisation_d'imageurs_rapides Banc de test pour caractérisation d'imageurs rapides]]] |
| − | + | Nos activités de recherche sur les imageurs rapides impliquent l'utilisation de source lumineuses ultra rapides et contrôlables avec une grande précision, et imposent des capacités d'acquisition de données ultra rapides. Deux salles d'expérimentation de l'équipe SMH sont dédiées à la caractérisation d'imageurs ultra rapides. L'une d'elles est une salle obscure contenant en particulier, parmi d'autres équipements spécifiques aux imageurs rapides, une source d'impulsions laser femtosecond (Spectra-Physics Tsunami) et une caméra haute vitesse (Optronis CR600x2). La deuxième salle est essentiellement utilisée pour la caractérisation d'imageurs à état solide fabriquées en technologie CMOS et contient en particulier un oscilloscope 13 GHz (Lecroy Wavemaster 813Zi) ainsi qu'une plateforme PXI (National Instrument PXIe-1062Q) équipée d'un convertisseur analogique/numérique 12 bits 80 MS/s et un convertisseur analogique/numérique 16 à 24 bits. | |
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| − | File:Light_fiber.jpeg|link= | + | File:Light_fiber.jpeg|link=Bancs_de_tests_spécifiques#Caractérisation_d'imageurs_rapides|[http://icube-smh.unistra.fr/fr/index.php/Bancs_de_tests_spécifiques#Caractérisation_d'imageurs_rapides Impulsion lumineuse se propageant le long d'une fibre optique] |
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Version actuelle datée du 26 janvier 2018 à 01:04
Expertise
L'équipe a construit une solide expertise dans ses principaux thèmes de recherche (Technologies pour la CAO, Systèmes et microsystèmes multiphysiques). En effet, concernant les activités de modélisation, nous avons développé des procédures permettant d'effectuer des mesures précises et exhaustives afin d'extraire les paramètres des dispositifs étudiés. Les résultats expérimentaux sont systématiquement confrontés et comparés aux modèles théoriques pour validation. Concernant les circuits intégrés développés pour des applications de capteurs (capteurs magnétiques et imageurs), nous concevons des cartes et procédures de tests qui correspondent la plupart du temps aux standards industriels et/ou médicaux. Notre expertise repose sur :
- L'extraction de paramètres de composants (électriques, température, etc.)
- La conception et le caractérisation de capteur magnétiques
- La conception d'ASICs bas-bruit, basse consommation à architectures mixtes (systèmes instrumentaux), la conception de cartes de tests ad-hoc et la caractérisation, comprenant les mesures bas-bruit, basses fréquences, les mesures haute précision
- La conception et la caractérisation de capteurs de lumière
- Les ASICs ultra-rapides (caméras ultra-rapides), les cartes et procédures de tests ad-hoc incluant la caractérisation ultra-haute fréquence, les mesures haute précision
- Les systèmes sur puce (SoC) sur cible FPGA pour les bancs de test
- L’automatisation des bancs de test (par LabView)
Caractérisation de capteurs magnétiques
Nos activités de recherche sur les capteurs magnétiques impliquent l'utilisation de sources magnétiques calibrées avec précision et fiables. C'est pourquoi l'un de nos bancs de test a été construit autour d'une bobine de Helmholtz dédiée, spécialement conçue par les ingénieurs du CNRS. Cette source a été calibrée avec une précision au nanotesla au moyen d'une sonde RMN. Elle peut être pilotée soit en courant continu (pour les mesures statiques), soit par une source AC (Agilent 6813B) (pour les mesures dynamiques). Les données de mesure sont acquises au moyen d'un multimètre numérique 8½ digit (Agilent 3458A) et d'une unité d'acquisition / stockage (Agilent 34970A). Le banc de test comprend également un analyseur de signaux dynamiques (Agilent 35670A) (pour l'analyse spectrale des phénomènes de bruit).
Caractérisation d'imageurs rapides
Nos activités de recherche sur les imageurs rapides impliquent l'utilisation de source lumineuses ultra rapides et contrôlables avec une grande précision, et imposent des capacités d'acquisition de données ultra rapides. Deux salles d'expérimentation de l'équipe SMH sont dédiées à la caractérisation d'imageurs ultra rapides. L'une d'elles est une salle obscure contenant en particulier, parmi d'autres équipements spécifiques aux imageurs rapides, une source d'impulsions laser femtosecond (Spectra-Physics Tsunami) et une caméra haute vitesse (Optronis CR600x2). La deuxième salle est essentiellement utilisée pour la caractérisation d'imageurs à état solide fabriquées en technologie CMOS et contient en particulier un oscilloscope 13 GHz (Lecroy Wavemaster 813Zi) ainsi qu'une plateforme PXI (National Instrument PXIe-1062Q) équipée d'un convertisseur analogique/numérique 12 bits 80 MS/s et un convertisseur analogique/numérique 16 à 24 bits.
